J4810型/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特司长进行对比分析，便于对管或配件配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。
集电极扫描信号
- 输出电压范围及电流容量 0～5V 0～10V 5A 0～50V 1A 0～100V 0.5A 0～500V 0.1A
- 基极阶梯信号 阶梯电流 0.2μA/级～50mA/级，分17档(XJ4810) 阶梯电压 0.05V级～1V/级，分5档(XJ4810)
Y轴偏转系数
- 集电极电流 10μA/div～0.5A/div，分15档(XJ4810) 二极管电流 0.2μA/div～5μA/div，分5档
- 倍率 ×0.1
X轴偏转系数
- 集电极电压 0.05V/div～50V/div，分10档 0.05V/div～1V/div，分5档
二族显示
一般性能
- 适应电源 AC220V±10% 50Hz±4%
- 视在功率 约50VA（非测试状态）
- 约80VA(最大功率)
- 外形尺寸 320B×220H×400Dmm3
- 重量 17kg