电厂烟气排放连续监测CEMS（分析SO2、NO、NO2、O2）
脱硫工艺监测（分析SO2、O2）
脱硝工艺监测（分析NO、NO2、NH3、O2）
垃圾焚烧烟气排放连续监测（分析SO2、NO、NO2、O2）
氯碱厂PVC工艺及钛白粉生产工艺微量Cl2分析（分析Cl2）
硫磺回收工艺气体分析（分析SO2、H2S）
天然气净化工艺气体分析（分析微量H2S）
煤化工碘甲烷分析（分析CH3I）
大气在线监测（分析SO2、NO2、O3）等
测量原理
UV-VIS吸收光谱
电磁辐射（光）与原子和分子之间的相互作用是光谱检测技术的基础，目前已经发展出中红外吸收光谱、近红外吸收光谱、紫外/可见吸收光谱、紫外荧光光谱、原子发射光谱、原子吸收光谱、原子荧光光谱、X射线荧光光谱等检测技术。
紫外吸收光谱检测技术的基础是，紫外光与分子相互作用时被分子吸收导致光能的变化，由于不同分子内部电子能级的跃迁能量和几率的不同，使得不同分子具有特征吸收光谱，可见，紫外吸收光谱是分子在紫外波段吸收能力的定量描述。通常用吸收截面来描述单位分子的紫外吸收光谱：
典型气体吸收截面
通过吸收光谱可分析分子浓度，其测量原理就是Beer-Lambert定律：
I(λ) = I0 (λ) exp( - L * s(λ) * X)
式中， I0(λ)表示波长为λ的光的入射光强，I(λ)表示紫外光穿过浓度为X和光程为L的待测气体后的光强，s(λ)为气体的吸收截面，L * s(λ) * X称为光学密度。
DOAS差分吸收光谱技术
DOAS（差分吸收光谱）是一种利用气体分子的吸收光谱高精度计算气体浓度的技术，由德国Heidelberg大学环境物理研究所的Ulrich Platt教授首先提出。
DOAS技术的基本原理是利用待测分子的窄带吸收特性来鉴别分子，并根据窄带吸收强度反演出分子的浓度。将分子的吸收截面看成是两部分的叠加，其一是随波长缓慢变化的部分，构成光谱的宽带结构，其二是随波长快速变化的部分，构成光谱的窄带精细结构，如下式：
si (λ)＝si 0 (λ)＋si r(λ)
其中si (λ)是分子的吸收截面，si 0 (λ)是吸收截面随波长缓慢变化的部分，si r (λ)是吸收截面随波长急剧变化的部分。DOAS方法的原理就是在吸收光谱中剔除光强随波长缓慢变化的部分，而只留下随波长快速变化的部分，然后用快速变化部分去反演气体的浓度，从而可以避免因为光源温漂或衰减、粉尘干扰、其他气体干扰等因素引起的测量值波动和漂移。